Estudo Comparativo da Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado com a Espectrometria de Emissão Atômica com Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço

Autores

  • Alessandro D. Oliveira
  • Almir F. Clain

DOI:

https://doi.org/10.21727/teccen.v3i1.241

Palavras-chave:

Emissão Atômica com Fonte de Plasma Indutivamente Acoplado, Fonte de Centelha para Análise Quantitativa de Aço.

Resumo

Este trabalho é um estudo comparativo de análise de aço de baixa liga empregando duas técnicas de mesmo fundamento básico (excitação de elétrons e emissão de fótons característicos), mas que utilizam fontes de excitação diferentes. As técnicas empregadas foram a espectrometria de emissão atômica com fonte de plasma indutivamente acoplado (ICP-AES) e a técnica de espectrometria de emissão ótica com fonte de centelha (Spark- AES).Um estudo estatístico comparou a precisão e a exatidão das técnicas. Os outros parâmetros utilizados na comparação das técnicas foram: a geometria da amostra (sua forma), tipo de amostra, tempos de preparação e análise e fator de recuperação.

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Volume 3, Número 1

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Publicado

2016-10-04

Edição

v. 3 n. 1 (2010): Revista Eletrônica TECCEN

Seção

Artigos

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